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深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。 深圳市谷易电子有限公司欢迎您！ --> 网站地图 联系我们 “谷”聚天下之检测“易”通世界之雄芯 全国服务热线： 13823541376 网站首页 关于我们 公司介绍 企业文化 发展历程 组织架构 团队活动 企业荣誉 产品中心 微针模组 定制IC test socket QFN/DFN封装系列 BGA封装系列 DDR封装系列 SOP/TSOP封装系列 成功案例 治具工厂 摄像头夹具治具 半导体芯片测试 自动化设备制造 手机 平板 EMMC 工厂实力 办公环境 生产车间 公司仓库 资讯动态 公司新闻 行业动态 常见问题 下载中心 请点击这里——软件下载 请点击这里——图纸下载 联系方式 热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列 您想找 选择您最想了解的产品类别 微针模组 定制IC test socket QFN/DFN封装系列 BGA封装系列 DDR封装系列 SOP/TSOP封装系列 QFP封装系列 EMCP/EMMC/UFS系列 晶振老化测试座 TO封装系列 SSD-flash测试夹具 贴片电容测试座 ATE测试座 进口外购 IGBT和新能源测试座 显示屏LCD+TP连接器_FPC连接器微针测试模组针模测试座 采用高精度模具开模，测试模块标准化，颠覆传统的弹片结构。能应对最小pitch≤0.2mm... 查看更多 自动化设备适用大电流弹片微针模组 大电流弹片微针模组产品参数,机械寿命: 200000次,额定电流: 3A~50A,环境温度: -55°... 查看更多 定制BGA1156_CPU处理器芯片测试治具 采用手动翻盖式结构，操作方便；上盖的IC压板采用旋压式结构，下压平稳，保证IC的压... 查看更多 QFN射频芯片测试座 根据用户要求定做各种阵列的socket；探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可... 查看更多 DFN8_WSON8_1.27(5X6)下压探针老化座socket 产品用途:编程座、测试座，对QFN8的IC芯片进行烧写、测试,适用封装:QFN8引脚间... 查看更多 QFN32_0.5翻盖弹片IC老化座 一、产品特点： ※ 采用ITE IT1327主控芯片，IT1327是一个USB 2.0多分区的SD... 查看更多 BGA63_0.8下压式弹片老化座 本款下压老化座适配BGA封装63PIN的芯片，适配尺寸10.5mm*13.5mm\9mm*11mm... 查看更多 BGA484_0.8芯片探针测试座_484老化测试socket 型号: BGA484-0.8-18*18,产地: 中国大陆,适用场景: 测试，烧录，编程，老化,封装方... 查看更多 DDR3×8一拖八 导电胶内存条测试夹具 DDR3芯片有多种尺寸规格，购买时请务必告知您所需要测试的芯片尺寸，为方便广大客户... 查看更多 LPDDR4_4X_BGA200_0.8合金探针芯片测试座 产品特点：1、提供免费三个月质保、终身维护服务；2、socket只要四颗螺丝便可拆下，探... 查看更多 SOP8（16）_1.27下压老化座 本款老化座适配芯片规格：SOP封装、8PIN、引脚间距1.27mm、芯片本体（不含引脚... 查看更多 tsop48_0.5下压弹片老化座 产品用途：老化座、测试座，对TSOP48的IC芯片进行测试，适用封装：TSOP48 引... 查看更多 QFP48_0.5下压式芯片老化测试座 产品用途：编程座、测试座，对QFP48的IC芯片进行烧写、测试,适用封装：QFP48、... 查看更多 UFS2.0翻盖旋钮探针测试座 更多类型的测试座和老化座适用于eMMC，eMCP，SOP，SSOP，TSSOP，Q... 查看更多 BGA153_169下压式合金顶窗测试座自动化设备适用 类型：合金顶窗按压式, 封装：BGA153, IC尺寸：11.5*13mm 间距：0.5mm 查看更多 3225-4pin翻盖探针晶振老化座 产品用途:老化座、测试座，对3225（3.2*2.5）的晶振进行高低温老化测试 查看更多 7050_4pin翻盖晶探测试座 晶振7050-4PIN镀金 高温 老化座 夹具插座5.08MM间距 工厂直销 查看更多 TO46_5PIN热电堆传感器老化座 产品名称：TO 系列老化座, 型号：TO46-5-2.54, 材质类别：塑胶主体：进口 LCP/... 查看更多 TO56_5_2.54高温老化座 提供TO46和TO56两个系列的测试座，有其他需求可洽谈；需妥善保存和运输TO系列老... 查看更多 BGA152_132翻盖弹针转DIP48测试 采用进口探针，电阻值更小，可过更高的测试频率；使用寿命更高，可长达15万次左右，测... 查看更多 SSD_SMI测试方案 产品用途:编程座、测试座，对EMMC169/153的IC芯片进行测试、读写 测试方法 1.选择... 查看更多 0603封装贴片电容6工位下压式高温老化测试座 0603封装贴片电容转DIP带板(6工位)老化座 高温镀金 测试夹具插座 查看更多 0805_20工位翻盖式贴片电容高温老炼测试座 老化测试座0805贴片电容20工位镀金高温老炼 老化座夹具插座 查看更多 EMCP162_186一拖32ATE式自动机台测试 测试座可直接通过双头探针转接在PCBA测试板上，通过螺丝孔和定位销孔固定。定制各... 查看更多 QFN测试座ATE式自动机台测试座 QFN44测试座可直接通过双头探针转接在PCBA测试板上，通过螺丝孔和定位销孔固定... 查看更多 热销产品为您推荐当下热门产品 定制BGA489（下95pin）-0.5mm芯片测试座-BGA芯片测试socket BGA247pin芯片老化座socket-bga芯片老练夹具 DFN12pin芯片测试座socket-dfn封装功率器件测试夹具 LCC44pin芯片老化测试座socket-lcc芯片老练夹具 DFN8pin芯片开尔文测试座socket—DFN器件测试夹具 LGA14pin芯片测试座socket-lga芯片测试夹具 BGA2892pin测试座socket—bga芯片测试夹具 SOP33pin芯片老化测试座socket-sop芯片老练夹具 为什么选择谷易公司的产品？ 选择我们的四大优势 好的资源平台，才能够让产品引领市场 01 20年用心质造，国内外IC测试座品牌供应商产品选用优质，稳定的原材料，为客户提供具有竞争力的产品广泛应用于数码，安防，仪器仪表，电工电气通信及汽车电子等领域。 产品质量稳定，工艺先进，远销国内外 02 人性化设计，探针可更换，便于拆卸、维护，降低测试成本 耐高低温范围在：-55℃-175℃，使用寿命高达10万次以上 产品可做到测试间距Pitch=0.2mm 探针结构，IC有锡球，无锡球都可以测试 完善的质量保证体系 测试准确率达100% 03 进口探针配合高精度模具，IC测试更稳定，提高使用效率 产品在确保接触稳定牢固的同时，减少了安装时间，省时省力 焊接安装操作极其方便，用户自己可安装，无须专业技术人员安装 确保最优质的品质和最佳的服务 04 产品若有任何质量问题，支持7天内免费退换保质三个月，免费的技术支持服务，终身保修厂家直销，产品交期快，现货订购，及时下单，及时发货 成功案例20年专注，赢得近5000家客户的信赖与支持！ 3C锂电池连接器大电流弹片微针模组 当前，锂电池产品测试的难点在于电流大（充放电过流保护测试项目要求过4.5-40A这个范围），传统的探针测试治具里探针可过电流至多只能达2A，所以就没有办法用传统探针治具来进行测试。现在...... 提供d-摄像头及触摸IC解决方案 1、采用手动翻盖/手自一体，定位精确，操作方便 2、采用进口镀金探针和防静电材料（Torlon、PEI、PPS、PEEK） 3、压板自动调节对IC的压力，保证下压力均匀；探针自适应能力强，对残球、锡球不均的IC都能...... 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