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IC测试座-DDR测试夹具-老化座批发-鸿怡电子 首页 产品解决方案 定制IC测试座 老化板定制 首页 产品中心 产品解决方案 定制IC测试座 老化板定制 资讯 品牌 联系鸿怡 常见问答 产品中心 自主研发·生产·销售·售后一条龙服务，支持零售·批发·定制·开模 非标定制测试座 现货标准品 QFN/DFN封装系列 BGA封装系列 QFP/OTQ封装系列 SOP/OTS封装系列 TO封装系列 LGA封装系列 WLCSP封装系列 LCC/CLCC封装系列 EMMC/EMCP/UFS SOT封装系列 LPDDR-GDDR-DDR系列 SMA/SMB/SMD系列 SSD-flash存储系列 有源/无源晶振系列 电阻电容电感系列 模块测试座 IGBT和新能源系列 军品/科研/航空 更多展示 定制铜裸DIE-0.64mm芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> 定制铜裸DIE-0.64   11x11x1.27 合金翻盖测试座参数： 本体尺寸：11.0*11.0mm 中心引脚间距：0.65mm Socket壳体：合金+PEEK 探针材料：铍铜 探针镀层：镍金 操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比 接触阻抗：50mΩmax 耐压测试：700V AC for 1minute 绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC 最大电流：1A 使用温度：-40°C-+155°C 机械寿命：大于80000次(机械测试) 定制铜裸DIE-0.64mm芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> 定制铜裸DIE-0.64   11x11x1.27 合金翻盖测试座参数： 本体尺寸：11.0*11.0mm 中心引脚间距：0.65mm Socket壳体：合金+PEEK 探针材料：铍铜 探针镀层：镍金 操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比 接触阻抗：50mΩmax 耐压测试：700V AC for 1minute 绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC 最大电流：1A 使用温度：-40°C-+155°C 机械寿命：大于80000次(机械测试) 定制DFN20-0.8（11*18）mm光模块芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> DFN20pin芯片测试座参数： 本体尺寸：11.0*18.0mm 中心引脚间距：0.80mm Socket壳体：合金+PEEK 测试座结构：翻盖式 探针材料：铍铜 探针镀层：镍金 操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比 接触阻抗：50mΩmax 耐压测试：700V AC for 1minute 绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC 最大电流：1A 使用温度：-45°C-+125°C 机械寿命：大于15000次(机械测试) 标品BGA144pin电源芯片老化测试座 测试座（夹具）特点： --> 产品特点: 1.单面弹结构:采用传统的焊接方式将Socket与PCBA板固定,稳定牢固,但是费工费时,且Socket一旦焊接后,无法重复利用: 2.双面弹结构:采用创新的锁螺丝方式将Socket与PCBA板固定,在确保接触稳定牢固的同时,减少了按装时间,省时省力,且PCBA可以重复利用,节约了测试成本; 定制QFP256pin-0.4mm芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> QFP256pin-0.4mm芯片测试座产品特点及规格 Socket本体：合金+PEEK Socket结构：旋钮翻盖式 探针材料：铍铜 探针镀层：镍金 操作压力：2.OKGmin,pin数越多压力越大 接触阻抗：50mΩmax 耐压测试：700V AC for lminute 绝缘阻抗：1000m500V DC 最大电流：1A 使用温度：-45°C-+125*C 机械寿命：大于15000次(机械测试) 定制sop6-2.54mm芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> 定制SOP6pin-2.54mm芯片测试座参数： 绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 耐电压:For 1 Minute AtAC 700V 接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 额定电流:1Amax/Pin. 工作温度:-45°C~+125°C 使用寿命:15,000 Times(Mechanical) 操作力:1.0Kg MAX 测试座结构:翻盖式 测试座材料:PEI+PEEK 标品TO247-2pin器件老化测试座 测试座（夹具）特点： --> TO247-2L整流器老练插座参数: 壳体材质:PEEK;  接触端子:进口铍铜，触点镀厚金  高温性能:  1.120℃-135℃，连续使用大于5000 小时;  2.135℃-150℃，连续使用时长大于200 小时;  机械性能:插拔次数50000次;  额定电流:20A 每pin拔插力度:25g/ pin 定制LGA122pin-1.5mm芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> SPECIFICATION 1绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 2、耐电压:For1 Minute At AC 700V 3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通) 5、额定电流:1A max/Pin. 6、工作温度:-45°C ~+125°C 7、使用寿命:20,000 Times(Mechanical) 8、操作力:1.0Kg MAX 9、中心引脚间距:1.5mm 10、适配芯片尺寸:130.5*28mm 定制WLCSP90(28)pin-0.4mm芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> 1. 微间距适配:探针需精准匹配0.35mm及以上间距的触点,同时避免相邻针尖短路 2. 温度适应性:工作温度范围需覆盖-55°C至120°C,以应对汽车电子（车规级）/工业设备（工业级）等严苛环境 3. 高可靠性:插拔次数需超过50万次,确保测试设备长期稳定运行. 定制LCC48-0.8mm一拖九震动测试座 测试座（夹具）特点： --> 支持频率：≤200Mhz 温度范围：-45℃-125℃ 操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大 额定电流：单PIN1A max 接触电阻：≤50毫欧 绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上 机械寿命：>1.5万次 中心引脚间距:0.8mm 适配芯片尺寸:11*11mm 定制UFS153(87pin)-0.5mm芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> UFS153pin存储芯片测试座参数： 实际下针87pin 绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 耐电压:For 1 Minute At AC 700V 接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial) 额定电流:1Amax/Pin. 工作温度:-55°C ~+125°C 最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试)，HS400/HS200 操作力:15~30g/Pin MAX 定制SOT23-8L-1.5mm芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> SPECIFICATION 1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 2、耐电压:For 1 Minute AtAC 700V 3、接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 4、额定电流:1Amax/Pin. 5、工作温度:-55°C~+175°C 6、测试座结构:蓝宝石盖分离式 7、器件尺寸:2.8*2.9mm 定制DDR4×8合金内存条探针功能测试 测试座（夹具）特点： --> 绝缘阻抗：1000mΩ Min.At DC 500V 耐电压：For 1 Minute AtAC 700V 接触阻抗：100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 额定电流：1A max/Pin 工作温度：-55°℃ ~+125°C 最高测试速率：2800Mhz(可根据客户要求定制不同信号频率测试Socket) 操作力：15~30g/Pin MAX 定制SMP8/SMD5气压传感器测试座 测试座（夹具）特点： --> SPECIFICATION1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V2、耐电压:For 1 Minute At DC 500V3、接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mA and 20mVMAX.(Initial)4、额定电流:1Amax/Pin.5、工作温度:-45~125℃ 定制DDR4×8合金内存条探针功能测试 测试座（夹具）特点： --> 绝缘阻抗：1000mΩ Min.At DC 500V 耐电压：For 1 Minute AtAC 700V 接触阻抗：100mΩ MAX。 at 10mA and 20mV MAX.(Initial) 额定电流：1A max/Pin 工作温度：-55°℃ ~+125°C 最高测试速率：2800Mhz(可根据客户要求定制不同信号频率测试Socket) 操作力：15~30g/Pin MAX 定制QFN32pin-0.5mm芯片老化座 测试座（夹具）特点： --> QFN32pin芯片老化测试座参数： 本体尺寸：5*5mm 引脚中心间距：0.5mm 芯片测试座结构:分离式 Socket壳体：合金+PEEK 探针材料：铍铜 探针镀层：镍金 操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比 接触阻抗：50mΩmax 耐压测试：700V AC for 1minute 绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC 最大电流：1A 使用温度：-45°C-+125°C 机械寿命：大于15000次(机械测试) 定制2512-2pin-1.79mm多工位电容测试座 测试座（夹具）特点： --> 2512电容测试座参数： 绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V 耐电压:For 1 Minute AtAC 700V 接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial) 额定电流:1Amax/Pin.可过6A 工作温度:-45°C~+155°C 定制LCC48-0.8mm一拖九震动测试座 测试座（夹具）特点： --> 支持频率：≤200Mhz 温度范围：-45℃-125℃ 操作力压：30g每pin，PIN越多需要压力越大 额定电流：单PIN1A max 接触电阻：≤50毫欧 绝缘电阻：DC500V 1000兆欧以上 机械寿命：>1.5万次 中心引脚间距:0.8mm 适配芯片尺寸:11*11mm 定制DFN20-0.8（11*18）mm光模块芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> DFN20pin芯片测试座参数： 本体尺寸：11.0*18.0mm 中心引脚间距：0.80mm Socket壳体：合金+PEEK 测试座结构：翻盖式 探针材料：铍铜 探针镀层：镍金 操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比 接触阻抗：50mΩmax 耐压测试：700V AC for 1minute 绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC 最大电流：1A 使用温度：-45°C-+125°C 机械寿命：大于15000次(机械测试) 定制DFN20-0.8（11*18）mm光模块芯片测试座 测试座（夹具）特点： --> DFN20pin芯片测试座参数： 本体尺寸：11.0*18.0mm 中心引脚间距：0.80mm Socket壳体：合金+PEEK 测试座结构：翻盖式 探针材料：铍铜 探针镀层：镍金 操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比 接触阻抗：50mΩmax 耐压测试：700V AC for 1minute 绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC 最大电流：1A 使用温度：-45°C-+125°C 机械寿命：大于15000次(机械测试) 产品推荐 标品BGA144pin电源芯片老化测试座 定制铜裸DIE-0.64mm芯片测试座 定制DDR4×8合金内存条探针功能测试 定制sop6-2.54mm芯片测试座 鸿怡电子HMILU品牌测试座在行业应用中的解决方案 消费电子 CPU/GPU/NPU内存闪存图像传感器电源管理芯片WIFI/蓝牙芯片驱动芯片微控制器加速度计陀螺仪芯片 汽车电子 超高算力AI芯片定位芯片传感器芯片毫米波雷达导航芯片SOC芯片电池管理芯片DC/DC转换芯片控制芯片通信芯片 医疗电子 探测器芯片超低功耗微控制器芯片光学检测芯片流体控制芯片专用传感器芯片图像处理芯片数据处理芯片 航空航天 信号处理芯片控制芯片处理器芯片传感器芯片导航芯片GPS模块/芯片 通信与网络 射频芯片硅芯片光电模块/芯片光纤通信芯片服务器CPU/GPU/DPUNFC芯片收发信号芯片FPGA 工业自动化与制造 通信接口芯片I/O处理芯片功率半导体高速处理器芯片图像传感器监测传感器芯片微控制器芯片通信芯片 能源与动力 通信芯片微控制器芯片电池管理系统芯片IGBT驱动芯片功率MOSFETSIC/GaN功率器件 计算与数据中心 CPUGPUAI加速器芯片内存存储控制器网络接口卡芯片电源管理芯片高性能处理器SSD控制器芯片DRAM芯片NOr Flash芯片 鸿怡质造 中国芯片检验方案服务标杆品牌 卓越品质服务至上 01 雄厚的企业实力自有工厂 您的放心之选 鸿怡电子研发,生产各类封装的半导体芯片测试座,老化座,测试夹具治具,集成电路IC的Burn-in-Socket和Test-Socket，产品封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等，针对非标类及特殊要求的测试座socket/测试夹具治具,有开模定制和机加工定制二种,可按需一件起定制。公司拥有现货标准品--加工定制品---开模定制品三大产线，满足您的各项测试需求！ 02 采用进口玻铜材料 弹性好·寿命长·抗老化 人性化设计，探针可更换，便于拆卸、维护，降低测试成本；耐高低温范围在：-55℃-175℃，使用寿命高达10万次以上；产品可做到测试间距Pitch=0.2mm；探针结构，IC有锡球，无锡球都可以测试 03 完善的质量保证体系测试准确率达99% 进口探针配合高精度模具，IC测试更稳定，提高使用效率；产品在确保接触稳定牢固的同时，减少了安装时间，省时省力；焊接安装操作极其方便，用户自己可安装，无须专业技术人员安装 04 金牌售后服务自有工厂 免费技术服务支持 产品若有任何质量问题，支持7天内免费退换；保质三个月，免费的技术支持服务，终身保修；厂家直销，产品交期快，现货订购，及时下单，及时发货 cooperation 感恩前行23年来为众多客户提供优质服务 他们共同见证了鸿怡电子 More 走进鸿怡 二十三年前，深圳市鸿怡电子有限公司的董事长发现中国人一直都是用进口的测试座，价格非常昂贵且没有售后可言，于是萌生了一定要让中国人用上物美价廉的优质测试座的想法。公司经过23年发展，终于成为今天集科研、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，在深圳--苏州--武汉都有生产工厂，占地面积超过五千平米... 工厂环境 荣誉资质 企业风采 新闻资讯关注一手资讯，不断持续精进 鸿怡动态 行业动态 常见问答 数据中心算力枢纽:国产存储芯片测试“桥梁”-鸿怡电子DDR芯片测试夹具治具 存储芯片作为数据中心与数字终端的核心基石，其技术迭代与质量保障离不开精准高效的测试方案。DDR4/LPDDR4X与DDR5/LPDDR5X两大系列芯片的并行发展，既满足了不同场景的差异化需求，也推动了测试技术向高频化、高精度、智能化、极端环境适配的方向升级。鸿怡电子凭借在测试座、老化座、治具等核心产品上的技术创新，以高... 鸿怡电子IC测试座:数字电路测试、模拟电路测... 芯片宽温测试座:解决芯片在不同温度下的可靠性... 电源管理芯片:LDO-DC/AC-BMS-驱... 处理器芯片封装测试:特性-测试类型-适配处理... 置顶 深圳市鸿怡电子有限公司   备案号：粤ICP备16068982号 保留一切权利   百度统计   网站地图 电话 案例 产品 我们

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